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村田磁珠在高频范围内的电阻特性是如何测量的?

作者:小编点击数:发布时间:2024-12-26

村田磁珠在高频范围内的电阻(阻抗)特性测量是电子元件测试中一项重要的技术,主要依赖于矢量网络分析仪(VNA)和阻抗分析仪这两种精密仪器。

 

村田磁珠.jpg

在使用矢量网络分析仪进行测量时,首先需要通过适配夹具将磁珠与仪器连接。VNA能够测量S参数,特别是S11和S21,这些参数是描述网络传输特性的重要指标。通过这些S参数,可以进一步计算出磁珠的阻抗,公式为 ( Z = R + jX ),其中R代表电阻,X代表电抗。

 

在高频范围内,磁珠的阻抗特性表现出随频率的增加而增大的趋势,主要体现在电阻特性上。这意味着在高频信号下,磁珠对信号的阻抗会显著增加,从而有效地抑制高频噪声。

 

使用阻抗分析仪时,通常会采用专用夹具进行连接,这样可以直接在仪器上显示不同频率下的阻抗值和相位角。阻抗分析仪的优势在于其能够提供更为直观的测量结果,尤其是在高频段,磁珠的电阻特性占主导地位,而电感效应则相对较弱。这种特性使得阻抗分析仪成为高频特性测试的理想选择。

 

在进行频率扫描时,测量的频率范围通常从几十MHz延伸至GHz。在低频段,磁珠的特性主要表现为电感特性,而在高频段,电阻特性则逐渐显现出来。测量结果表明,随着频率的增加,阻抗值也随之上升。在高频段,实部电阻成为主要成分,这一特性对于高频噪声的衰减具有重要意义。

 

在进行上述测量时,有几个关键的注意事项需要特别关注。首先,确保测试夹具的校准是至关重要的,只有经过准确校准的夹具才能提供可靠的测量结果。其次,尽量减少连接走线的长度,以降低寄生效应的影响,这样可以提高测量的准确性和重复性。



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